光谱衍射光谱检测

检测项目

1.物相鉴定与定性分析：未知物相鉴定、多相混合物鉴定、同质多象变体区分。

2.物相定量分析：多相体系各相含量测定、无标样定量分析、有标样定量分析。

3.晶体结构解析：晶胞参数精确测定、空间群确定、原子占位分析。

4.结晶度测定：聚合物结晶度计算、矿物结晶度测试、半结晶材料分析。

5.晶粒尺寸与微观应变分析：谢乐公式法计算晶粒尺寸、微观应变测试、缺陷密度分析。

6.残余应力测定：表面残余应力分析、宏观应力测量、应力梯度测试。

7.织构与取向分析：丝织构测定、板织构测定、极图与反极图绘制。

8.薄膜与涂层分析：薄膜厚度测定、涂层物相分析、界面结构表征。

9.高温与变温原位分析：相变温度测定、热膨胀系数测量、高温物相演化研究。

10.非环境分析：低温物相分析、气氛环境下物相稳定性测试。

检测范围

合金钢、铝合金、钛合金、高温合金、金属粉末、铸铁、水泥熟料、陶瓷粉体、耐火材料、玻璃、石英、长石、方解石、高岭土、沸石分子筛、工业催化剂、药品原料药、电极材料、半导体外延片、防腐涂层

检测设备

1.多晶X射线衍射仪：用于粉末及块状样品的物相鉴定、定量分析及晶粒尺寸测定；配备常规铜靶X射线管及测角仪。

2.高分辨率X射线衍射仪：用于单晶、外延薄膜等材料的精密晶体结构分析；具备高精度测角仪与多重晶单色器。

3.微区X射线衍射仪：用于对样品微小区域进行物相与结构分析；配备微聚焦X射线光源与光学定位系统。

4.薄膜X射线衍射仪：专用于薄膜、涂层材料的物相、厚度、应力及织构分析；采用掠入射几何配置。

5.原位高温X射线衍射附件：用于在程序控温条件下实时观测材料物相与结构变化；最高温度可达一千数百摄氏度。

6.原位低温X射线衍射附件：用于在低温环境下研究材料的物相与结构特性；通常采用液氮制冷系统。

7.应力分析仪：专用于测量材料表面的残余应力与应力梯度；采用侧倾固定ψ法或sin²ψ法。

8.织构测角仪：用于系统测量多晶材料的择优取向并绘制极图；配备欧拉环或专用样品台。

9.小角X射线散射附件：用于分析纳米尺度范围内的结构不均匀性，如纳米颗粒尺寸分布、孔隙结构；需与主机联用。

10.X射线衍射数据采集与处理系统：用于控制仪器运行、采集衍射图谱并进行物相检索、晶胞精修等数据处理；内置国际标准粉末衍射数据库。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.